| |
| Обозначение | ГОСТ 18986.4-73 |
| Заглавие на русском языке | Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance |
| Дата введения в действие | 01.01.1975 |
| ОКС | 31.080.10 |
| Код ОКП | 634100;634011 |
| Код КГС | Э29 |
| Код ОКСТУ | 6309;6341 |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | 470181;473329 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод |
| Ключевые слова |
диоды полупроводниковые; измерение емкости; аппаратура; обработка результатов; |
| Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
| Вид требований | Документ имеет отметку * |
| Обозначение заменяемого(ых) | ГОСТ 10964-64 |
| Содержит требования: СЭВ | СТ СЭВ 2769-80 |
| Нормативные ссылки на: IEC | IEC 60147-2M |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 18986.0-74 |
| Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
| Разработчик МНД | Российская Федерация |
| Межгосударственный ТК | 303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование |
| Дата последнего издания | 01.07.2000 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание с изм. 1;2 |
| Количество страниц (оригинала) | 7 |
| Статус | Действует |
Скачать бесплатно "ГОСТ 18986.4-73" в формате pdf 