| |
Обозначение | ГОСТ 18986.7-73 |
Заглавие на русском языке | Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда |
Заглавие на английском языке | Semiconductor diodes. Methods for measuring life time |
Дата введения в действие | 01.01.1975 |
ОКС | 31.080.10 |
Код ОКП | 634011;634500 |
Код КГС | Э29 |
Код ОКСТУ | 6209 |
Индекс рубрикатора ГРНТИ | 470181;473329 |
Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ. Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ |
Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
Вид требований | Документ имеет отметку * |
Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 18986.6-73;ГОСТ 19656.0-74 |
Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
Разработчик МНД | Российская Федерация |
Межгосударственный ТК | 303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование |
Дата последнего издания | 01.05.2004 |
Номер(а) изменении(й) | переиздание с изм. 1 |
Количество страниц (оригинала) | 6 |
Статус | Действует |