| |
Обозначение | ГОСТ 18986.10-74 |
Заглавие на русском языке | Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности |
Заглавие на английском языке | Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance |
Дата введения в действие | 01.07.1976 |
ОКС | 31.080.10 |
Код КГС | Э29 |
Код ОКСТУ | 6309 |
Индекс рубрикатора ГРНТИ | 470181;473329 |
Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов: метод I - для диодов, индуктивность которых 2 нГн и более; метод II - для диодов, индуктивность которых менее 2 нГн |
Ключевые слова |
диоды полупроводниковые; измерение индуктивности; аппаратура; обработка результатов; |
Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
Вид требований | Документ имеет отметку * |
Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
Разработчик МНД | Российская Федерация |
Межгосударственный ТК | 303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование |
Дата последнего издания | 01.05.2004 |
Номер(а) изменении(й) | переиздание с изм. 1;2 |
Количество страниц (оригинала) | 6 |
Статус | Действует |