ГОСТ 18986.11-84
Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь

ОбозначениеГОСТ 18986.11-84
Заглавие на русском языкеДиоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь
Заглавие на английском языкеSemiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods
Дата введения в действие01.07.1985
ОКС31.080.10
Код ОКП621500;621600
Код КГСЭ29
Индекс рубрикатора ГРНТИ470181;473329
Аннотация (область применения)Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь: для варикапов, предназначенных для работы в диапазоне от 0,25 до 1000 МГц; для туннельных диодов
Вид стандартаСтандарты на методы контроля
Вид требованийДокумент имеет отметку *
Обозначение заменяемого(ых)ГОСТ 18986.11-74
Содержит требования: СЭВСТ СЭВ 3199-81
Нормативные ссылки на: IECIEC 60147-2F
Нормативные ссылки на: ГОСТГОСТ 18986.0-74
Управление Ростехрегулирования530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения
Разработчик МНДРоссийская Федерация
Межгосударственный ТК303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование
Дата последнего издания01.08.2002
Номер(а) изменении(й)переиздание
Количество страниц (оригинала)8
СтатусДействует