| |
| Обозначение | ГОСТ 18986.14-85 |
| Заглавие на русском языке | Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances |
| Дата введения в действие | 01.07.1986 |
| ОКС | 31.080.10 |
| Код ОКП | 621000 |
| Код КГС | Э29 |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | 470181;473329 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод. Стандарт не распространяется на стабилитроны |
| Ключевые слова |
диоды полупроводниковые; методы измерения дифференциального сопротивления; методы измерения динамического сопротивления; методы измерения сопротивлений; полупроводниковые диоды; |
| Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
| Вид требований | Документ имеет отметку * |
| Обозначение заменяемого(ых) | ГОСТ 18986.14-75;ГОСТ 19656.8-74 |
| Содержит требования: СЭВ | CT CЭB 2769-80 |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 18986.0-74;ГОСТ 19656.0-74 |
| Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
| Разработчик МНД | Российская Федерация |
| Межгосударственный ТК | 303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование |
| Дата последнего издания | 01.05.2004 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание |
| Количество страниц (оригинала) | 11 |
| Статус | Действует |
Скачать бесплатно "ГОСТ 18986.14-85" в формате pdf 