| |
Обозначение | ГОСТ 18986.24-83 |
Заглавие на русском языке | Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения |
Заглавие на английском языке | Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage |
Дата введения в действие | 01.07.1984 |
ОКС | 31.080.10 |
Код ОКП | 621000 |
Код КГС | Э29 |
Индекс рубрикатора ГРНТИ | 470181;473329 |
Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения |
Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
Вид требований | Документ имеет отметку * |
Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 18986.0-74 |
Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
Разработчик МНД | Российская Федерация |
Межгосударственный ТК | 303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование |
Дата последнего издания | 01.08.2002 |
Номер(а) изменении(й) | переиздание |
Количество страниц (оригинала) | 3 |
Статус | Действует |