| |
| Обозначение | ГОСТ 19834.4-79 |
| Заглавие на русском языке | Диоды полупроводниковые излучающие инфракрасные. Методы измерения мощности излучения |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor radiating infra-red diodes. Methods of measurement of radiation power |
| Дата введения в действие | 01.07.1981 |
| ОКС | 31.080.10 |
| Код ОКП | 621000 |
| Код КГС | Э29 |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | 470181;473331 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды некогерентного излучения и устанавливает методы измерения мощности излучения от 1 до 5 Вт в диапазоне длин волн 0,7-2,0 мкм: метод непосредственной оценки и метод замещения |
| Ключевые слова |
диоды полупроводниковые; диоды излучающие; диоды инфракрасные; измерение мощности излучения; аппаратура; обработка результатов; |
| Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
| Содержит требования: СЭВ | СТ СЭВ 3788-82 |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 9411-91;ГОСТ 17616-82;ГОСТ 19834.0-75 |
| Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
| Разработчик МНД | Российская Федерация |
| Межгосударственный ТК | 303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование |
| Дата последнего издания | 01.04.2000 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание с изм. 1;2 |
| Количество страниц (оригинала) | 7 |
| Статус | Действует |
Скачать бесплатно "ГОСТ 19834.4-79" в формате pdf 