| |
| Обозначение | ГОСТ 19834.5-80 |
| Заглавие на русском языке | Диоды полупроводниковые инфракрасные излучающие. Метод измерения временных параметров импульса излучения |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor emitting infra-red diodes. Method for measuring of radiation pulse switching times |
| Дата введения в действие | 01.01.1982 |
| ОКС | 31.080.10 |
| Код ОКП | 621000 |
| Код КГС | Э29 |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | 470181;473331 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые инфракрасные излучающие диоды, в том числе бескорпусные, и устанавливает метод измерения временных параметров импульса излучения: времени нарастания, времени спада, времени задержки при включении, времени задержки при выключении |
| Ключевые слова |
диоды полупроводниковые; диоды излучающие; диоды инфракрасные; измерение временных параметров; параметры импульса излучения; аппаратура; обработка результатов; |
| Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
| Вид требований | Документ имеет отметку * |
| Содержит требования: СЭВ | СТ СЭВ 3788-82 |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 19834.0-75 |
| Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
| Разработчик МНД | Российская Федерация |
| Межгосударственный ТК | 303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование |
| Дата последнего издания | 01.04.2000 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание с изм. 1;2 |
| Количество страниц (оригинала) | 7 |
| Статус | Действует |
Скачать бесплатно "ГОСТ 19834.5-80" в формате pdf 