| |
| Обозначение | ГОСТ 19834.0-75 |
| Заглавие на русском языке | Излучатели полупроводниковые. Общие требования при измерении параметров |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor emitters. Methods for measurement of parameters. General principles |
| Дата введения в действие | 01.07.1976 |
| ОКС | 31.080.99 |
| Код ОКП | 621000 |
| Код КГС | Э29 |
| Код ОКСТУ | 6309 |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | 470181;473331 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает положения, общие для стандартов на методы измерений спектрофотометрических, преобразовательных и электрических параметров полупроводниковых излучателей. Стандарт входит в комплекс государственных стандартов на методы измерения параметров полупроводниковых излучателей |
| Термины и определения | Приложение |
| Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
| Вид требований | Документ имеет отметку * |
| Примечание | текст изм. № 1 из-за большого объема не печатался |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 8.023-86;ГОСТ 12.0.004-79;ГОСТ 12.1.004-85;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 20.57.406-81;ГОСТ 10863-70;ГОСТ 18986.1-73;ГОСТ 18986.2-73;ГОСТ 18986.3-73 |
| Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
| Разработчик МНД | Российская Федерация |
| Межгосударственный ТК | 169 - Изделия квантовой электроники |
| Дата последнего издания | 24.03.1975 |
| Количество страниц (оригинала) | 7 |
| Статус | Действует |
Скачать бесплатно "ГОСТ 19834.0-75" в формате pdf 