| |
| Обозначение | ГОСТ 19834.2-74 |
| Заглавие на русском языке | Излучатели полупроводниковые. Методы измерения силы излучения и энергетической яркости |
| Заглавие на английском языке | Semiconductor emitters. Methods for measurement of radiant intensity and radiance |
| Дата введения в действие | 01.01.1976 |
| ОКС | 31.080.99 |
| Код ОКП | 621000 |
| Код КГС | Э29 |
| Код ОКСТУ | 6209 |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | 473331;470181 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели некогерентного излучения, в том числе бескорпусные и устанавливает методы измерения силы излучения: метод непосредственной оценки;метод замещения;методы измерения энергетической яркости: прямой и косвенный |
| Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
| Вид требований | Документ имеет отметку * |
| Содержит требования: СЭВ | СТ СЭВ 3788-82 |
| Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 19834.0-75 |
| Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
| Разработчик МНД | Российская Федерация |
| Межгосударственный ТК | 303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование |
| Дата последнего издания | 01.02.1984 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание с изм. 1 |
| Количество страниц (оригинала) | 10 |
| Статус | Действует |
Скачать бесплатно "ГОСТ 19834.2-74" в формате pdf 