| |
| Обозначение | ГОСТ 4.64-80 |
| Заглавие на русском языке | Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей |
| Заглавие на английском языке | Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature |
| Дата введения в действие | 01.07.1981 |
| ОКС | 03.120;29.045 |
| Код ОКП | 177000 |
| Код КГС | Т51 |
| Код ОКСТУ | 0004;1770 |
| Индекс рубрикатора ГРНТИ | 818105;470929;470181 |
| Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции |
| Ключевые слова |
полупроводниковые материалы; показатели качества; номенклатура; |
| Вид стандарта | Основополагающие стандарты |
| Управление Ростехрегулирования | 320 - Управление стандартизации и сертификации сырья и материалов |
| Разработчик МНД | Российская Федерация |
| Межгосударственный ТК | 104 - Полупроводниковая и редкометаллическая продукция |
| Дата последнего издания | 01.02.1985 |
| Номер(а) изменении(й) | переиздание с изм. 1 |
| Количество страниц (оригинала) | 11 |
| Организация - Разработчик | ГИРедмет |
| Статус | Действует |
Скачать бесплатно "ГОСТ 4.64-80" в формате pdf 