| |
Обозначение | ГОСТ 24461-80 |
Заглавие на русском языке | Приборы полупроводниковые силовые. Методы измерений и испытаний |
Заглавие на английском языке | Power semiconductor devices. Test and measurement methods |
Дата введения в действие | 01.01.1982 |
ОКС | 29.200;31.080 |
Код ОКП | 341700 |
Код КГС | Е69 |
Код ОКСТУ | 3409 |
Индекс рубрикатора ГРНТИ | 450181 |
Аннотация (область применения) | Настоящий стандарт распространяется на силовые полупроводниковые приборы, кроме арсенид-галлиевых приборов, диоды, тиристоры на максимально допустимые средние или действующие токи 10А и более и устанавливает методы измерения параметров и проверки (испытаний) предельно допустимых значений параметров, в том числе условия, схемы, режимы, требования к элементам схем и контрольно-измерительному оборудованию, последовательность операций при измерениях и проверках |
Ключевые слова |
приборы полупроводниковые силовые; методы измерений; испытания; аппаратура; |
Термины и определения | Приложение |
Вид стандарта | Стандарты на методы контроля |
Вид требований | Документ имеет отметку * |
Содержит требования: СЭВ | СТ СЭВ 1656-79 |
Нормативные ссылки на: IEC | IEC 60747-1(1983);IEC 60747-2(1983);IEC 60747-6(1983) |
Нормативные ссылки на: ГОСТ | ГОСТ 8.207-76;ГОСТ 12.1.030-81;ГОСТ 12.2.007.0-75;ГОСТ 12.3.019-80;ГОСТ 15150-69 |
Управление Ростехрегулирования | 530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения |
Разработчик МНД | Российская Федерация |
Дата последнего издания | 01.08.1990 |
Номер(а) изменении(й) | переиздание с изм. 1;2 |
Количество страниц (оригинала) | 65 |
Статус | Действует |