ГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем

ОбозначениеГОСТ Р МЭК 748-11-1-2001
Заглавие на русском языкеПриборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Заглавие на английском языкеSemiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
Дата введения в действие01.07.2002
ОКС31.200
Код ОКП633000
Код КГСЭ02
Аннотация (область применения)Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов
Ключевые слова контроль;  дефекты;  критерии;  пассивация;  металлизация;  диффузия;  соединения;  
Вид стандартаСтандарты на методы контроля
Аутентичный текст с IECIEC 60748-11-1(1992)
Управление Ростехрегулирования530 - Отдел стандартизации и сертификации информационных технологий, продукции электротехники и приборостроения
Технический комитет России303 - Изделия электронной техники, материалы и оборудование
Дата последнего издания27.04.2001
Количество страниц (оригинала)29
СтатусДействует